Cyntec 1F 無塵室落塵監控報告

報告編號:索引號 10399
採樣時間:2026/05/13 11:48:45
農曆:丙午年三月廿七
[P] Process - 監測區域與流程位置

監控範圍:1F 無塵室。針對關鍵自動化生產設備進行環境落塵採樣分析。

[Q] Quality - 採集品質數據彙整
收集點位置名稱 0.5uM 數量 (顆) 5uM 數量 (顆)
黃光乾外觀區 6 2
曝光機 14 1
清洗機 36 5
銅線刻機 42 0

※ 數據說明:單位為顆(Particles)。

[V] Visualization(視覺化)
graph LR Root[1F 無塵室監控] --> ZoneA[黃光製程區] Root --> ZoneB[清洗刻蝕區] ZoneA --> S1["黃光乾外觀區
(0.5uM: 6 | 5uM: 2)"] ZoneA --> S2["曝光機
(0.5uM: 14 | 5uM: 1)"] ZoneB --> S3["清洗機
(0.5uM: 36 | 5uM: 5)"] ZoneB --> S4["銅線刻機
(0.5uM: 42 | 5uM: 0)"] style Root fill:#004a99,color:#fff style S1,S2,S3,S4 fill:#f9f9f9,stroke:#333